파장판은 통과하는 빛의 편광 상태를 변경하는 광학 장치이다. 일반적인 파장판은 단순히 특정 두께의 석영, 방해석 등과 같은 복굴절 크리스탈이다.

평행 빔이 파장판을 수직으로 통과하는 경우, 복굴절 특성으로 인해 빔은 두 개의 구성 요소로 분할된다. 두 성분의 진동면은 서로 수직이며 위상 속도는 약간 다르다.

파장판 석영 플레이트의 두께는 전기장 벡터가 회전 레버와 평행하게 진동하는 빛의 구성 요소가 다른 수직 진동 구성 요소보다  정도 느리게 선택되어 있다.

 파장판의 경우  위상 차이가 생성되도록 석영 플레이트의 두께를 선택한다.

이 실험에서는 다이오드 레이저 빔은 편광기, 파장판, 검광기를 통과하여 최종적으로 디텍터에 도달한다. 디텍터 출력 전류는 서로 다른 검광기의 각도에 의해 변화한다. 디택터의 출력 전류와 검광기 각도 사이의 변화를 통해 편광 상태와 축의 변화를 확인할 수 있습니다.

실험1. 검광자 각도의 강도 측정

실험2. λ/4파장판에 의한 편광(타원형 및 원형 편광)

실험3. 반파판에 의한 편광(편광 축의 변화)

실험4. 말루스의 법칙