[EM AC20] Automatic Contrasting system for Electron Microscopy
| 판매가 | 가격문의 |
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| 제조사 | Leica |
| 적립금 | 0원 |
| 배송비 | 3,000원 (50,000원 이상 구매 시 무료) |
| 원산지 | 독일 |
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| 상품명 | [EM AC20] Automatic Contrasting system for Electron Microscopy |
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| 제조사 | Leica |
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극박 절편용 자동 콘트라스팅 기기
Leica EM AC20
Leica EM AC20
특징
- 극박 절편용 자동 콘트라스팅 장치(Leica EM AC20)는 사용자의 시약 접촉을 최소화하여 안전하게 실험가능
- 연동 펌프와 비접촉 밸브를 이용하여 시약이 배관을 통해 그리드 챔버로 직접 이동하기 때문에 빠르고 높은 품질의 이중염색 가능
- 생물 초박절편을 우라닐과 납을 이용해서 이중 콘트라스트 처리 가능한 시스템
- 한번에 20개 그리드까지 처리 가능하며 전 과정 자동화 시스템으로 재현성 증가
명암 대조 시스템(Contrasting)
명암 대조(contrasting)는 전자현미경 관찰을 위한 시료 전처리의 가장 중요한 단계들 중 하나입니다. 중금속 아세트산 우라늄(uranyl acetate)과 시트르산 납(lead citrate)으로 그리드 위에 있는 초박 절편을 이중 명암 대조하는 방법은 전자현미경 관찰의 일반적인 명암 대조 기법입니다.
적은 양의 시약으로 안전하게 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다.
